1、零點校正
由于超聲波經(jīng)過保護膜、耦合劑(直探頭)或有機玻璃楔塊(斜探頭)進入待測工件的，缺點定位時，需將這局部聲程移去，才干得到超聲波在工件中實踐聲程。
零點通常是經(jīng)過已知聲程的試塊進行調(diào)理，如CSK-IA試塊中的R100圓弧面(斜探頭)或深100mm的大平底(直探頭)。
2、K值校正
由于斜探頭探傷時不只要知道缺點的聲程，更要得出缺點的筆直和水平方位，因而斜探頭還要**測定其K值(折射角)才干**地對缺點進行定位。
K值通常是經(jīng)過對具有已知深度孔的試塊來調(diào)理，如用CSK-IA試塊50或1.5的孔。
3、定量校正
定量調(diào)理通常選用AVG(直探頭)或DAC(斜探頭)。