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超聲檢測(cè)技術(shù)中的缺陷定性方法

發(fā)布時(shí)間:2021/3/25

超聲無(wú)損檢測(cè)技術(shù)中的三大關(guān)鍵問(wèn)題是缺陷的定位、定量和定性評(píng)定。迄今為止,廣大的超聲檢測(cè)技術(shù)人員已作了大量實(shí)驗(yàn)研究工作,在對(duì)缺陷的定位和定量評(píng)定方面取得了很大進(jìn)展,并逐步趨于成熟與完善。如在眾多有關(guān)超聲檢驗(yàn)的技術(shù)規(guī)范中,對(duì)諸如確定缺陷埋藏深度及在探測(cè)面上的投影位置,評(píng)定缺陷的當(dāng)量大小,延伸長(zhǎng)度以及缺陷投影面積等都有明確的方法規(guī)定,對(duì)保證產(chǎn)品構(gòu)件的質(zhì)量和安全使用具有重大作用。然而,在對(duì)缺陷定性評(píng)定方面卻存在相當(dāng)大的困難,這主要是由于缺陷對(duì)超聲波的反射特性取決于缺陷的取向、幾何形狀、相對(duì)超聲波傳播方向的長(zhǎng)度和厚度、缺陷的表面粗糙度、缺陷內(nèi)含物以及缺陷的種類和性質(zhì)等等,并且還與所使用的超聲檢測(cè)系統(tǒng)特性及顯示方式有關(guān),因此,在超聲檢測(cè)時(shí)所獲得的缺陷超聲響應(yīng)是一個(gè)綜合響應(yīng)。在目前常用的超聲檢測(cè)技術(shù)上還難以將上述各因素從綜合響應(yīng)中分離識(shí)別出來(lái),給定性評(píng)定帶來(lái)了困難。

在實(shí)際檢測(cè)過(guò)程中,由于難以判明缺陷性質(zhì),往往會(huì)使一些含有對(duì)使用條件是非危險(xiǎn)性的、或者在后續(xù)加工過(guò)程中可以被改善甚至消除的缺陷的產(chǎn)品被拒收,造成不必要的浪費(fèi),同時(shí)也可能忽視了一些含有危險(xiǎn)性缺陷(如裂紋類缺陷)的產(chǎn)品,對(duì)產(chǎn)品的安全使用造成潛在威脅。

本文的目的是試圖把迄今為止廣大超聲檢測(cè)人員在缺陷定性評(píng)定方面進(jìn)行的主要研究工作做一綜合介紹,以期促進(jìn)對(duì)缺陷定性評(píng)定方法研究的發(fā)展。

超聲檢測(cè)技術(shù)對(duì)缺陷定性評(píng)定的主要方法

一.波形判斷法(經(jīng)驗(yàn)法)

目前應(yīng)用廣泛的是A掃描顯示型超聲脈沖反射式檢測(cè)儀。經(jīng)過(guò)長(zhǎng)期的超聲檢測(cè)實(shí)踐,許多超聲檢測(cè)人員對(duì)其大量接觸的材料、產(chǎn)品及制造工藝有充分的了解,并通過(guò)大量的解剖分析驗(yàn)證,積累了豐富的經(jīng)驗(yàn),在檢測(cè)時(shí)能通過(guò)A掃描顯示型超聲脈沖反射式探傷儀,根據(jù)示波屏上出現(xiàn)缺陷回波時(shí)的波形形狀,例如視頻顯示或射頻顯示,起波速度,回波前沿的陡峭程度及回波后沿下降的速度(下降斜率),波尖形狀,回波占寬以及移動(dòng)探頭時(shí)缺陷回波的變化情況(波幅、位置、數(shù)量、形狀、動(dòng)態(tài)包絡(luò)等),還可以根據(jù)觀察多次底波的次數(shù),底波高度損失情況,再根據(jù)缺陷在被檢件中的位置,分布情況,缺陷的當(dāng)量大?。ㄅc反射率有關(guān)),延伸情況,結(jié)合具體產(chǎn)品、材料的特點(diǎn)和制造工藝作出綜合判斷,評(píng)估出缺陷的種類和性質(zhì)。有時(shí)還可以通過(guò)改變發(fā)射超聲波脈沖的頻率、改變聲束直徑大?。ú扇【劢够虿捎貌煌睆降奶筋^等)來(lái)觀察缺陷的回波變化特征,從而識(shí)別是材料中的冶金缺陷還是組織反射。

在這方面已經(jīng)有不少經(jīng)驗(yàn)總結(jié)和資料報(bào)道,例如判斷鋼鍛件中的白點(diǎn)、夾雜物、殘余縮孔、粗晶、中心疏松、方框形偏析,以及焊縫中的氣孔、夾渣、未焊透、未熔合、裂紋等等。

必須指出,這種判斷方法在很大程度上依賴超聲檢測(cè)人員的經(jīng)驗(yàn)、技術(shù)水平和對(duì)特定產(chǎn)品、材料及制造工藝的充分了解,其局限性是很大的,難以推廣成為通用的評(píng)定方法。此外,作為A掃描顯示的缺陷回波所顯示的缺陷信息也極其有限,主要顯示的是波幅大小、位置和回波包絡(luò)形狀,而缺陷對(duì)超聲響應(yīng)的相位、頻譜等重要信息則無(wú)法顯示出來(lái),但是后兩者與缺陷性質(zhì)和種類有著密切關(guān)系,這也正是目前廣大超聲檢測(cè)人員致力研究探索的問(wèn)題。

下面舉出一部分常見缺陷的回波特征:

(1)鋼鍛件中的粗晶與疏松--多以雜波、叢狀波形式或底波高度損失增大、底波反射次數(shù)減少等形式出現(xiàn)。

(2)棒材的中心裂紋--在沿圓周面作360°徑向縱波掃查時(shí),由于裂紋的輻射方向性,其反射波幅有高低變化并有不同程度的游動(dòng),在沿軸向掃查時(shí),反射波幅度和位置變化不大并顯示有一定的延伸長(zhǎng)度。

(3)鍛件中的裂紋--由于裂紋型缺陷內(nèi)含物多有氣體存在,與基體材料聲阻抗差異較大,超聲反射率高,缺陷有一定延伸長(zhǎng)度,起波速度快,回波前沿陡峭,波峰尖銳,回波后沿斜率很大,當(dāng)探頭越過(guò)裂紋延伸方向移動(dòng)時(shí),起波迅速,消失也迅速。

(4)鋼鍛件中的白點(diǎn)--波峰尖銳清晰,常為多頭狀,反射強(qiáng)烈,起波速度快,回波前沿陡峭,回波后沿斜率很大,在移動(dòng)探頭時(shí)回波位置變化迅速,此起彼伏,多處于被檢件例如鋼棒材的中心到1/2半徑范圍內(nèi),或者鋼鍛件厚度大的截面的1/4~3/4中層位置,有成批出現(xiàn)的特點(diǎn)(與爐批號(hào)和熱加工批有關(guān))。當(dāng)白點(diǎn)數(shù)量多、面積大或密集分布時(shí),還會(huì)導(dǎo)致底波高度顯著降低甚至消失。

(5)鍛件中的非金屬夾雜物--多為單個(gè)反射信號(hào),起波較慢,回波前沿不太陡峭,波峰較圓鈍,回波后沿斜率不太大并且回波占寬較大。

(6)鈦合金鍛件中的高密度夾雜物(例如鎢、鉬)--多為單個(gè)反射信號(hào),回波占寬不太大,但較裂紋類要大些,回波前沿較陡峭,后沿斜率較大,當(dāng)改變探測(cè)頻率和聲束直徑時(shí),其反射當(dāng)量大小變化不大(如為大晶?;蚱渌M織反射在這種情況下回波高度將有顯著變化)。

(7)鑄件或焊縫中的氣孔--起波快但波幅較低,有點(diǎn)狀缺陷的特征。

(8)焊縫中的未焊透--多為根部未焊透(如V型坡口單面焊時(shí)鈍邊未熔合)或中間未焊透(如X型坡口雙面焊時(shí)鈍邊未熔合),一般延伸狀況較直,回波規(guī)則單一,反射強(qiáng),從焊縫兩側(cè)探傷都容易發(fā)現(xiàn)。

(9)鑄件或焊縫中的夾渣--反射波較紊亂,位置無(wú)規(guī)律,移動(dòng)探頭時(shí)回波有變化,但波形變化相對(duì)較遲緩,反射率較低,起波速度較慢且后沿斜率不太大,回波占寬較大。

一般在可能的情況下,為了進(jìn)一步確認(rèn)缺陷性質(zhì),還應(yīng)采用其他無(wú)損檢測(cè)手段,例如X射線照相(檢查內(nèi)部缺陷)、磁粉和滲透檢驗(yàn)(檢查表面缺陷)來(lái)輔助判斷。

二.根據(jù)回波相位識(shí)別反射體

根據(jù)聲壓反射率公式:rp=(Z2cosα-Z1cosβ)/(Z2cosα+Z1cosβ)

式中:Z1-第一介質(zhì)(被檢材料)的聲阻抗;Z2-第一介質(zhì)(缺陷)的聲阻抗;α-入射角;β-反射角

當(dāng)超聲波垂直入射時(shí),cosα=cosβ=1,當(dāng)入射波與反射波同為一種波型時(shí),α=β,上述公式簡(jiǎn)化為:rp=(Z2-Z1)/(Z2+Z1)

即超聲波在被檢材料中投射到缺陷上時(shí),在界面的聲反射大小取決于兩者聲阻抗差值,并在Z2<Z1的情況下,回波相位與入射波反相,從而可以利用回波與入射波的相位關(guān)系識(shí)別例如裂紋或其他反射體。

如圖1(上)所示,使用平底孔(含空氣)調(diào)整起始靈敏度時(shí),顯示的射頻回波相位與金屬材料中的入射波相位相反,而對(duì)于裂紋、非金屬夾雜物等缺陷,情況相似,即缺陷回波與平底孔回波相位相同(圖1中)。如果是高密度夾雜物(例如鎢、鉬等)缺陷時(shí),則缺陷回波與平底孔回波相位相反,即Z缺>Z基時(shí),回波與入射波同相,與平底孔回波反相;Z缺<Z基時(shí),回波與入射波反相,與平底孔回波同相。(Z缺為缺陷聲阻抗,Z基為基體材料聲阻抗)。

       另一種利用回波射頻顯示正向與負(fù)向大振幅關(guān)系識(shí)別焊縫中裂紋類危險(xiǎn)缺陷的方法如圖2所示。

應(yīng)當(dāng)說(shuō)明的是,上述兩種方法都需要能在示波屏上以較大程度(比例)展寬脈沖信號(hào)的超聲探傷儀,并應(yīng)能作射頻顯示,但目前常用的一般便攜式超聲探傷儀在這方面的應(yīng)用還受到一定限制。

三.根據(jù)視頻顯示波形的形狀判別缺陷性質(zhì)

這是在經(jīng)驗(yàn)法的基礎(chǔ)上,通過(guò)定量測(cè)定缺陷回波的前沿上升時(shí)間(t1),脈沖持續(xù)時(shí)間(t2)和脈沖下降時(shí)間(t3),從而對(duì)缺陷性質(zhì)進(jìn)行判別的方法,見圖3所示。

首先應(yīng)對(duì)示波屏水平基線刻度以0.1μs或1μs分劃,可以使用厚度2.5英寸(63.6mm)的純鋁平面試塊(CL=6.35mm/μs),使第一、二次底波前沿分別對(duì)準(zhǔn)總長(zhǎng)100mm的水平線刻度上的50和100mm,此時(shí)水平基線刻度每1mm代表聲波傳播時(shí)間為0.4μs(往返時(shí)間),使缺陷回波高度為100%滿刻度,讀取90%滿刻度線和20%滿刻度線與回波包絡(luò)線交點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的t1、t2和t3三個(gè)時(shí)間。

對(duì)于裂紋類缺陷(類似鏡面反射),其t1小,t2較非平面缺陷的t2要小;

對(duì)于疏松、夾雜類缺陷,由于缺陷周圍不規(guī)則界面的彌散特征,使t3較長(zhǎng),并且t1、t2也較裂紋類缺陷的大。

       這種方法與經(jīng)驗(yàn)法判斷含氣體的裂紋類缺陷回波的前沿陡峭、回波占寬較小、回波后沿斜率較大的特點(diǎn)是相應(yīng)的,但是用這種方法可以更定量地判斷,不過(guò)其具體定量值尚需做大量的實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證工作后確定。

四.缺陷回波的頻譜分析

缺陷回波的頻譜包絡(luò)形狀與缺陷幾何形狀及取向,以及缺陷尺寸與超聲波長(zhǎng)的比值密切相關(guān),因此可以通過(guò)向缺陷發(fā)射寬頻帶(窄脈沖)超聲波并對(duì)接收到的回波信號(hào)頻譜進(jìn)行分析從而判斷缺陷種類和性質(zhì)。在這方面已有不少資料報(bào)道,但主要還是以識(shí)別反射體的幾何形狀為基礎(chǔ),例如識(shí)別是平面缺陷還是體積缺陷,是傾斜取向還是垂直取向的缺陷,利用不同形狀與取向缺陷的反射與頻率的依從關(guān)系,能較好地確定缺陷的種類和性質(zhì)。

       我們知道,在探傷儀上顯示的是缺陷的合成傳輸函數(shù):F合=F1·F2·F32·F42·F5·F62

式中:F1-發(fā)生器傳輸函數(shù);F2-放大器傳輸函數(shù);F3-探頭傳輸函數(shù);F4-被檢件傳輸函數(shù);F5-缺陷傳輸函數(shù);F6-耦合傳輸函數(shù)。其中F3、F4和F6對(duì)超聲信號(hào)有兩次(往返)影響,故取其平方值。

在一般情況下,缺陷傳輸函數(shù)F5又是下述缺陷各參數(shù)的函數(shù)ψ:F5=ψ{K·Nb·Sb·Qb·Rb}

式中:K-缺陷坐標(biāo)(位置);Nb-缺陷性質(zhì);Sb-缺陷面積;Qb-缺陷取向;Rb-缺陷內(nèi)含物(填充物)

在用普通單頻超聲法向工件發(fā)射超聲脈沖和接收反射超聲脈沖時(shí),缺陷內(nèi)含物的脈沖頻率保持不變,因此電路和聲路部分所有傳輸函數(shù)都不帶有缺陷信息,成了窄頻濾波器,并由于它們彼此的振幅頻率特性有顯著不同,而使包含在F5中的大部分缺陷信息消失在其他傳輸函數(shù)中。

利用頻譜法可以比普通單頻法大大增加有關(guān)缺陷性質(zhì)和大小的信息量。對(duì)于K、Qb和Sb,容易用普通方法確定,困難的是確定Nb和Rb。可以把缺陷反射脈沖的頻譜設(shè)為R(x),發(fā)射脈沖頻譜為E(t),而缺陷傳輸函數(shù)設(shè)為h(t),則:

R(x)=E(t)·h(t)

       當(dāng)已知與給定方向有關(guān)的函數(shù)R(x)后,雖然還不能確定缺陷的全部特征,但已能對(duì)缺陷的一般形狀,特別是對(duì)缺陷的取向提供有用的資料。因此,可以利用寬頻帶(窄脈沖)探頭,并使發(fā)射頻譜盡可能規(guī)則,則缺陷回波頻譜將隨缺陷的形狀和取向而變化,從而有助于判斷出缺陷的種類和性質(zhì)。

超聲檢測(cè)技術(shù)對(duì)缺陷定性評(píng)定的其他方法

1.超聲C掃描和B掃描

這是將直通回波以線型方式顯示缺陷的平面投影形狀(C掃描)或缺陷在深度截面上反射面的平直、彎曲,即反射界面的形狀(B掃描),從而幫助判斷缺陷的種類和性質(zhì)。

2.超聲全息

借助全息原理,將缺陷反射的大量信息數(shù)據(jù)處理成三維空間立體圖像顯示以輔助判斷。

3.利用電子計(jì)算機(jī)處理缺陷回波信號(hào)

目前國(guó)內(nèi)外均在研究并試制出電腦化超聲波探傷儀。但是常用的是與頻譜分析結(jié)合使用或作為超聲探測(cè)程序控制來(lái)使用,不過(guò)相信很快將有突破性發(fā)展。

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